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兩探針材料電阻率測試儀詳情介紹

兩探針材料電阻率測試儀詳情介紹
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價格:電議

型號:FT-300TZ

采購度:2699    原產地:中國大陸

發布時間:2023/9/28 9:48:54

產品簡介:適用于半導體材料企業、科研、高等院校及實驗室分析半導體材料縱向電阻率;可測量橫截面積均勻的圓形、方形或矩形硅單晶的電阻率,試樣長度與截面尺寸之比應不小于3:1

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詳細信息
產品資料
適用于半導體材料企業、科研、高等院校實驗室分析半導體材料縱向電阻率可測量橫截面積均勻的圓形、方形或矩形硅單晶的電阻率,試樣長度與截面尺寸之比應不小于3:1配置測量平臺,正反向電流測量模式;液晶顯示,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,可選購PC軟件實時數據和報表管理;提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.

工作原理
GB/T 1551-2009 硅單晶電阻率測定方法-方法2直流兩探針法
SEMI MF 397-1106<<硅棒電阻率測定兩探針法>>
 
參數規格

三、參數 資料
1.電阻率:10^-7~2×10^7Ω-cm
2.電 阻:10^-7~2×10^7Ω
3.電導率:5×10^-7~10^7s/cm
4.分辨率: 0.1μΩ測量誤差±(0.05%讀數±5字)
5.測量電壓量程: 2mV   20mV  200mV 2V 測量精度±(0.1%讀數)
6.分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV
7.電流輸出:直流電流 0~1000mA 連續可調,
量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA, 誤差:±0.2%讀數±2字
8.顯示方式:液晶顯示:電阻值、電阻率、電導率值、溫度、單位自動換算、橫截面、高度、電流、電壓等.
9.溫度要求:23℃±1℃
10.電源:220±10% 50HZ/60HZ
11. 測量平臺參數如下:
1.可測硅芯、檢驗棒尺寸:直徑4~22(其他規格可定制)
2).探針頭探針與試樣接觸位置重復,無橫向移動。
3).兩探針測試探針。探頭間距1.59mm(其他規格可定制);探針機械游率:±0.3%。
4).探針直徑0.8㎜探針壓力總6-12N,探針材料:鎢
5.探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109
12.標配外選購項a.pc軟件1套;b.標準電阻1件;c.電腦和打印機
 
 

更新時間:2024/9/18 8:33:58


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